1. Sistema de monitorização de baterias de ácido-chumbo / by Dias, Octávio Páscoa Publication: Lisboa : Instituto Superior Técnico, 1995 Date:1995 Availability: No items available:

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2. Monitorização de corrente para detecção de defeitos em circuitos integrados CMOS / by Fernandes, José Miguel Ramirez Colaço Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1995 Date:1995 Availability: No items available:

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3. Metodologia de geração de padrões de teste para cobertura de defeitos físicos em CIs digitais / by Santos, Marcelino Bicho dos Publication: Lisboa : Instituto Superior Técnico, 1994 Date:1994 Availability: No items available:

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4. Avaliação da testabilidade em circuitos digitais metal-óxido-semicondutor / by Sousa, José João Henriques Teixeira de Publication: Lisboa Instituto Superior Técnico 1992 Date:1992 Availability: No items available:

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5. Desenvolvimento de um sistema electrónico de vigilância utilizando técnicas de modelação orientadas por objectos / by Simãozinho, Luís António Botas Guerra Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1996 Date:1996 Availability: No items available:

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6. Classificação de faltas em circuitos digitais metal-óxido-semicondutor / by Gonçalves, Fernando Manuel Duarte Publication: Lisboa : Instituto Superior Técnico, 1992 Date:1992 Availability: No items available:

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7. Modelação física de células de lógica de injecção integrada / by Teixeira, João Paulo Cacho Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1982 , Estudo apresentado para a prova complementar de Doutoramento Date:1982 Availability: No items available:

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8. Caracterização física do efeito de alargamento de base em transistores bipolares / by Teixeira, João Paulo Cacho Publication: Lisboa : Instituto Superior Técnico, 1982 Date:1982 Availability: No items available:

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9. Sistema electrónico para automatização de Linha de produção vinícola / by Ribeiro, Rui Manuel Vasconcelos Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1998 Date:1998 Availability: No items available:

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10. Desenvolvimento de biliotecas de células testáveis para circuitos integrados digitais : by Casimiro, António Pedro Abreu Padez Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1994 Date:1994 Availability: No items available:

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11. Extracção e amostragem de faltas orientadas por defeitos físicos em circuitos integrados VLSI / by Gonçalves, Fernando Manuel Duarte Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1999 Date:1999 Availability: No items available:

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12. Extracção de faltas em circuítos integrados de tecnologia de metal-oxido-semicondutor / by Grácio, José Alexandre de Almeida Lucas Machado Publication: Lisboa : Instituto Superior Técnico, 1990 Date:1990 Availability: No items available:

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13. Tecnologias de microelectrónica by Teixeira, João Paulo Cacho Publication: [S.l.] [s.n.] 1991 . 36 f. , Relatório, apresentado para provas de agregação em Engenharia Eletrotécnica e de Computadores, Instituto Superior Técnico, Universidade Técnica de Lisboa, 1991 30 cm Date:1991 Availability: Copies available: IST - Biblioteca de Química (1),

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14. Teste de circuitos integrados digitais CMOS by Teixeira, João Paulo Cacho Publication: [S.l.] [s.n.] 1991 . [47] f. , Lição proferida em provas de agregação 30 cm Date:1991 Availability: No items available:

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15. Teste de circuitos integrados digitais CMOS by Teixeira, João Paulo Cacho Publication: Lisboa [s.n.] 1991 . 5 f. , Sumário da lição, apresentado para provas de agregação em Engenharia Eletrotécnica e de Computadores, Instituto Superior Técnico, Universidade Técnica de Lisboa, 1991 30 cm Date:1991 Availability: No items available:

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16. Geração e avaliação de arquitecturas para sistemas físicos e lógicos (Hw/Sw) testáveis / by Dias, Octávio Páscoa Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1999 Date:1999 Availability: No items available:

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17. Teste de PLAs : by Sousa, José João H.Teixeira de Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1989 Date:1989 Availability: No items available:

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18. Análise da influência das técnicas de síntese na testabilidade de circuitos CMOS sequencias / by Mazeda, Maria Raquel de Andrade Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1995 Date:1995 Availability: No items available:

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19. Simulação de faltas VHDL para teste e diagnóstico orientado por defeitos em circuitos integrados digitais / by Celeiro, Francisco Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1995 Date:1995 Availability: No items available:

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20. Estudo e desenvolvimento de bibliotecas de células digitais CMOS de baixo consumo / by Correia, Paulo Fernando Dinis Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1995 Date:1995 Availability: No items available:

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21. Modelação de faltas realistas em circuitos integrados digitais CMOS / by Santos, Mário Alexandre Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1997 Date:1997 Availability: No items available:

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22. Análise de faltas realistas em circuitos integrados analógicos de tecnologia bipolar / by Geraldes, Carlos José Brás Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1996 Date:1996 Availability: No items available:

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23. Diagnóstico de faltas realistas em circuitos integrados digitais / by Matias, Jorge Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1997 Date:1997 Availability: No items available:

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24. Especificação VHDL e projecto de CI's digitais com restrição de testabilidade física / by Gomes, Dália Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 1996 Date:1996 Availability: No items available:

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25. Preparação do teste de sistemas digitais a nível de transferência de registos para detecção de defeitos físicos / by Santos, Marcelino Bicho dos Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 2001 , Acompanhado por um exemplar em CD-Rom que contém: Relatório , Lição e CV Date:2001 Availability: No items available:

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26. Técnicas de introdução de DFT a nível de sistema em sistemas físicos e lógicos (Hw/Sw) / by Semião, Jorge Filipe Leal Costa Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 2000 Date:2000 Availability: No items available:

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27. Extracção de faltas em circuitos integrados de tecnologia de metal-óxido-semicondutor/ by Grácio, José Alexandre de Almeida Lucas Machado Publication: Lisboa : IST, 1990 Date:1990 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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28. Classificação de faltas em circuitos digitais metal-óxidos-semicondutor / by Gonçalves, Fernando Manuel Duarte Publication: Lisboa : IST, 1992 Date:1992 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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29. Avaliação da testabilidade física em circuitos digitais metal-óxido-semicondutor / by Sousa, José João Henriques Teixeira de Publication: Lisboa : IST, 1992 Date:1992 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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30. Aplicação da Abordagem de auto-teste integrado baseado em máscaras (m-BIST) a sistemas sequenciais / by Guerreiro, Fernando Manuel da Costa Publication: Lisboa: IST; 2006 . Brochado : | 169 pág. ; 30 cm. + Date:2006 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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31. Aplicação da Abordagem de auto-teste integrado baseado em máscaras (m-BIST) a sistemas sequenciais / by Guerreiro, Fernando Manuel da Costa Publication: Lisboa: IUTL, Instituto Superior Técnico; 2006 Date:2006 Availability: No items available:

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32. Desenvolvimento de bibliotecas de células testáveis para circuitos intyegrados digitais CMOS / by Casimiro, António Pedro Abreu Padez Publication: Lisboa: IST, 1994 Date:1994 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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33. Metodologia de geração de padrões de teste para cobertura de defeitos físicos em CIs digitais / by Santos, Marcelino Bicho dos Publication: Lisboa : IST, 1994 Date:1994 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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34. Projecto de soluções auto-testáveis de sub-sistemas electrónicos de um sistema de apoio à experiência CMS do CERN / by Marques, Vítor Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 2000 Date:2000 Availability: No items available:

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35. BIST Architectures for dynamic test = by Gomes, Sílvia Andrea Teixeira Publication: Lisboa UTL, Instituto Superior Técnico 2007 . XI, 85 fls. 30 cm Date:2007 Availability: No items available:

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36. Sistema de monitorização de baterias de ácido-chumbo / by Dias, Octávio Páscoa Publication: Lisboa : IST, 1995 Date:1995 Availability: No items available: Withdrawn (1),

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37. Using variable Vdd for delay fault detection and tolerance improvement in CMOS digital systems / by Dionísio, Joana Eusébio Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 2008 . xiv, 72, [4] p. Date:2008 Availability: No items available:

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38. Soluções de auto-teste para sistemas electrónicos / by Correia, Ruben Tagarroso Janeiro Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 2006 Date:2006 Availability: No items available:

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39. Power-supply and temperature based methodologies to improve tolerance and detection of delay faults in synchronous digital circuits / by Semião, Jorge Filipe Leal Costa Publication: Lisboa : UTL, Instituto Superior Técnico, 2010 . 193 p. : , Acompanhado por um exemplar em CD-Rom Date:2010 Availability: No items available:

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